赫爾納供應瑞士PS Prozesstechnik粒子測量

赫爾納供應瑞士PS Prozesstechnik粒子測量XPT-C

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PS Prozesstechnik粒子測量主要產品：

1. 粒子測量設備

2. 粒子計懸浮液

3. 穩(wěn)定性分析儀

PS Prozesstechnik粒子測量產品型號：

l XPT-C

l XPT-P

l XPT CP

l XPT

PS Prozesstechnik粒子測量產品特點：

PS Prozesstechnik粒子測量XPT – CP

尺寸 300 x 300 x 120mm 加上振動溜槽附件

重量：8公斤+5公斤

外殼材料：不銹鋼，振動通道陽極氧化鋁

電源 115/230V

PS Prozesstechnik粒子測量產品應用：

XPT - 通過動態(tài)圖像分析測量粒度

PS Prozesstechnik粒子測量XPT-C 演示在線測量粉末和懸浮液中的粒度、顆粒形狀、數(shù)量、粒度分布。功能原理非常簡單：就像顯微鏡每秒拍攝 30 張圖像，粒子流流過顯微鏡，同時軟件對所有粒子進行全面評估。整個過程根據(jù) ISO-13322-2 被稱為動態(tài)圖像分析. 使用具有極短曝光時間或超短光脈沖照明的 CCD 相機，即使是快速移動的粒子也能產生清晰的圖像。完整的系統(tǒng)包括帶有探頭 (XPT-P) 或流通池 (XPT-C) 的基本設備、計算機和軟件。該軟件通過強大的并行化針對快速圖像處理進行了優(yōu)化。

PS Prozesstechnik粒子測量帶有用于懸浮液的流通池 (XPT-C) 的設備變體還可以配備用于熔體測量的可加熱測量池。另一種選擇是用于在線區(qū)分無定形和結晶顆粒的偏振光。通過添加帶有振動通道的附件并更換測量單元，該設備還可用于粉末測量 (XPT-CP)。XPT-CV 系統(tǒng)適用于粉末工藝中的在線使用：采用文丘里系統(tǒng)的樣品抽吸系統(tǒng)將樣品在閉合回路中從工藝過程中通過測量單元并再次返回。XPT-P 探頭可以直接在過程中進行測量（例如管道、鍋爐）。

PS Prozesstechnik粒子測量XPT-PR 帶振動通道

功能原理：探頭浸入產品流中或安裝在產品流上方的規(guī)定距離處。像場由來自探頭的入射光照亮。圖像由探頭中的 CCD 攝像頭記錄，立即連續(xù)評估，結果在軟件中連續(xù)顯示和記錄。

附加模塊振動通道：通過將探頭安裝在附加模塊中，可以檢查流過的粉末中是否有顏色變化的顆粒（例如白色粉末中的深色顆粒）。

PS Prozesstechnik粒子測量完整的系統(tǒng)由帶攝像頭的不銹鋼探頭和氙氣閃光燈或高性能 LED 照明、控制單元、PC（筆記本電腦，也封裝無風扇）和軟件組成。

PS Prozesstechnik粒子測量XPT - CP 粒度儀，帶流通池，用于粉末測量

PS Prozesstechnik粒子測量粒度測量粉末

功能原理 XPT-CP：顆粒通過由圖像處理軟件控制的振動通道輸送到溜槽中。它們落入內置 CCD 攝像頭的圖像平面，記錄的圖像立即連續(xù)評估，結果連續(xù)顯示并記錄在軟件中

完整的系統(tǒng)由帶攝像頭和高性能 LED 照明的不銹鋼外殼、流通池、振動通道、控制單元、PC 和軟件組成。